HAST加速老化試驗(yàn)箱多層電路板測(cè)試
HAST加速老化試驗(yàn)箱多層電路板測(cè)試 HAST加速老化試驗(yàn)箱多層電路板測(cè)試好處
HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化試驗(yàn)箱是一種常用于電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬高溫、高濕環(huán)境，對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的加速老化測(cè)試。在多層電路板測(cè)試中，HAST加速老化試驗(yàn)箱可以幫助檢測(cè)電路板在高溫高濕環(huán)境下的可靠性。它可以模擬現(xiàn)實(shí)生活中可能遇到的惡劣環(huán)境條件，通過加速老化測(cè)試，評(píng)估電路板在長(zhǎng)期使用中是否會(huì)出現(xiàn)性能下降、功能失效等問題。
在測(cè)試過程中，電路板會(huì)被放置在HAST加速老化試驗(yàn)箱中，然后設(shè)定相應(yīng)的溫度和濕度條件。在高溫高濕的環(huán)境下，電路板會(huì)經(jīng)歷長(zhǎng)時(shí)間的老化過程，通過監(jiān)測(cè)電路板的性能指標(biāo)和功能，可以評(píng)估其可靠性和耐久性。
多層電路板測(cè)試是電子產(chǎn)品開發(fā)和制造過程中重要的一環(huán)，它可以幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題和缺陷，并提前進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。通過使用HAST加速老化試驗(yàn)箱進(jìn)行多層電路板測(cè)試，可以有效提高電子產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性，確保其在各種環(huán)境條件下的正常運(yùn)行。 一、設(shè)備用途：
HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測(cè)試，對(duì)上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進(jìn)行測(cè)試。
二、設(shè)備特點(diǎn)：
1) 采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在很大程度上降低了使用故障率。
2) 獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3) 門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4) 試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
5) 超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).
6) 水位保護(hù)，透過試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7) tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.
8) 二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.
9) 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .
10) 偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）
11) USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.
三、主要技術(shù)參數(shù)：
設(shè)備型號(hào)： HE-HAST-40
圓形內(nèi)箱尺寸： 直徑Φ400×深500（mm）
溫度范圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )
溫度波動(dòng)度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~100% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH
使用壓力： 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動(dòng)均勻度： ±0.1Kg
時(shí)間范圍： 0 Hr～999Hr
加壓時(shí)間： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm2 約 45 分
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內(nèi)桶材質(zhì)： SUS316#不銹鋼板
外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護(hù)： 超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，缺水保護(hù)等
水質(zhì)要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
HAST加速老化試驗(yàn)箱在多層電路板測(cè)試中有以下好處：1. 高效加速老化：HAST試驗(yàn)箱可以模擬高溫高濕環(huán)境，通過提高溫度和濕度，加速電路板的老化過程。相比于自然老化，HAST試驗(yàn)可以在較短的時(shí)間內(nèi)提供更快的老化速度，加快產(chǎn)品開發(fā)和測(cè)試周期。
2. 發(fā)現(xiàn)潛在問題：通過多層電路板測(cè)試，可以及早發(fā)現(xiàn)電路板中的潛在問題和缺陷。HAST試驗(yàn)可以暴露出電路板在高溫高濕環(huán)境下可能出現(xiàn)的性能下降、功能失效、電氣故障等問題，從而提前采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。
3. 提高產(chǎn)品可靠性：通過經(jīng)過HAST加速老化試驗(yàn)的多層電路板進(jìn)行測(cè)試，可以評(píng)估電路板在長(zhǎng)期使用中的可靠性和耐久性。這樣可以確保產(chǎn)品在各種惡劣環(huán)境條件下仍然能夠正常運(yùn)行，提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。
4. 節(jié)省成本和時(shí)間：通過使用HAST試驗(yàn)箱進(jìn)行多層電路板測(cè)試，可以在短時(shí)間內(nèi)獲得可靠的測(cè)試結(jié)果。這樣可以減少產(chǎn)品開發(fā)和測(cè)試周期，提高生產(chǎn)效率，同時(shí)也能夠減少因產(chǎn)品在實(shí)際使用中出現(xiàn)問題而導(dǎo)致的維修和返工成本。
總的來說，HAST加速老化試驗(yàn)箱在多層電路板測(cè)試中可以提供高效的加速老化測(cè)試，幫助發(fā)現(xiàn)潛在問題，提高產(chǎn)品可靠性，同時(shí)也能夠節(jié)省成本和時(shí)間。
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